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SN74BCT8374ADWRG4

SN74BCT8374ADWRG4

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零件编号 SN74BCT8374ADWRG4
制造商 Texas Instruments
描述 IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
封装 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
库存 3,840 piece(s)
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SN74BCT8374ADWRG4 产品规格
制造商Texas Instruments
类别Integrated Circuits (ICs) - Logic - Specialty Logic
封装24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
系列74BCT
逻辑类型Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
电源电压4.5 V ~ 5.5 V
比特数8
工作温度0°C ~ 70°C
安装类型Surface Mount
包/箱24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
供应商设备包24-SOIC

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零件编号 制造商 描述 库存

SN74BCT8374ADWRG4

 Texas Instruments

IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

 3,840

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